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Statistische Detektion von Anomalien in Bilddaten von Mikrobauteilen


Authors

  • Staar, B.
  • Kück, M.
  • Ait Alla, A.
  • Lütjen, M.
  • Simic, A.
  • Freitag, M.

Meta information [BibTeX]

  • Year: 2017, Reviewed
  • In: Industrie 4.0 Management
  • Publisher: GITO Verlag, Berlin
  • Volume 2, Issue 33
  • Pages: 52-56
  • ISSN: 2364-9208



Arbeitsgruppe BIBA



Staar, B.; Kück, M.; Ait Alla, A.; Lütjen, M.; Simic, A.; Freitag, M.
Statistische Detektion von Anomalien in Bilddaten von Mikrobauteilen
In: Industrie 4.0 Management, 2(2017)33, GITO Verlag, Berlin, pp. 52-56
(Workgroup: BIBA)
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